ES4440 – Module compact de simulation de défauts

Le module compact ES4440.2 permet la génération de défauts lors de tests sur calculateurs automobiles, au sein d’environnements temps réel. Ce module peut être utilisé en autonome ou en association avec des systèmes de test Hardware-in-the-loop. Il est logé dans un châssis 3 HU, et peut être monté dans un système de racks. Le module est également doté d’interfaces CAN et Ethernet pour la commande des simulations. LABCAR-PINCONTROL fait partie de ce module. Il fournit une interface utilisateur simple et conviviale permettant de faire fonctionner l’ES4440 manuellement.

Les applications typiques de l’ES4440 incluent:

  • Tests de mise en production des logiciels, basés sur des spécifications normalisées telles qu’OBD II
  • Débogage des fonctions de diagnostic
  • Conduite de tests dans un environnement virtuel temps réel, par exemple un système HiL (Hardware-in-the-loop) avec LABCAR-RTPC
  • Tests sur banc dynamique ou sur véhicule à l’arrêt
  • Utilisation manuelle via LABCAR-PINCONTROL
  • Utilisation automatisée avec LABCAR-AUTOMATION ou d’autres outils d’automatisation

Aperçu des fonctions

Les caractéristiques essentielles du module compact de génération de défauts ES4440 sont les suivantes:

  • Simulation de défauts en temps réel
  • 64 canaux à courant haute intensité et 16 canaux haute tension
  • Simulation de mauvais contacts
  • API pour intégration système personnalisée
  • Déploiement pour conduite de tests automatisée
  • Interfaces de communication CAN et Ethernet pour commande de simulation
  • Défauts simulés prises en charge:
    • Court-circuit GND/UBATT
    • Anomalies broche à broche
    • Ruptures de câbles
    • Courant de fuite
    • Anomalies multiples de court-circuit et rupture de câble