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Webinar

ECU-Zugriff meistern: Hochleistungsmessung und -kalibrierung für µC und µP in modernen E/E-Architekturen

Online, 15. September 2026, 16:00 Uhr und 16. September 2026, 10:00 Uhr MESZ

ECU-Zugriff meistern: Hochleistungsmessung und -kalibrierung für µC und µP in modernen E/E-Architekturen

Das softwaredefinierte Fahrzeug führt neben den herkömmlichen, auf Mikrocontrollern (µC) basierenden Steuergeräten auch auf Mikroprozessoren (µP) basierende Fahrzeugcomputer ein. Um die jeweiligen Stärken der µC- und µP-Technologie zu nutzen, werden verteilte Funktionen in der sich weiterentwickelnden Zonenarchitektur eine immer wichtigere Rolle spielen. Angesichts der zunehmenden Anzahl verteilter Funktionen sehen sich die Entwicklungsteams mit einer fragmentierten und komplexen Validierungslandschaft konfrontiert. Ingenieure benötigen bewährte, unkomplizierte Werkzeuge, um Fahrzeugfunktionen unabhängig von der Verteilung auf die Steuergeräte zu optimieren und zu validieren, ohne dabei die Datenintegrität oder die Teameffizienz zu beeinträchtigen.

Dieses technische Webinar befasst sich mit praktischen Strategien zur Vereinheitlichung des Zugriffs auf Steuergeräte (ECUs) in unterschiedlichen Architekturen. Wir bieten einen detaillierten Einblick in fortschrittliche Methoden für den Zugriff auf und die Verwaltung von Daten aus allen Arten von Steuergeräten, von Low-Level-ECUs bis hin zu POSIX-basierten µP-Systemen. Im Mittelpunkt der Veranstaltung stehen technische Lösungen, die eine robuste Datenerfassung mit hoher Bandbreite sowie die Anpassung von Parametern in Echtzeit ermöglichen und dabei die spezifischen Herausforderungen der Funktionsvalidierung und -optimierung in modernen Automobilprojekten angehen.

Key Topics und Erkenntnisse

  • Einheitlicher ECU-Zugriff: Erfahren Sie, wie einheitliche Tools für den leistungsstarken Datenzugriff auf alle Arten von Steuergeräten – von Mikrocontrollern (µC) bis hin zu Hochleistungs-Mikroprozessoren (µP) – die Fragmentierung von Arbeitsabläufen beseitigen.
  • Kosteneffiziente Datenerfassung mit hohem Durchsatz: Erfahren Sie, wie Sie moderne µC-Schnittstellen nutzen können, um Datenraten von über 80 MB/s zu erreichen und dabei die Datenintegrität in Validierungsszenarien mit hoher Auslastung zu gewährleisten.
  • Flexibilität durch modularen Aufbau: Erfahren Sie, wie Sie dank des modularen Aufbaus und der funktionsbasierten Lizenzierung des M-ETK eine maßgeschneiderte Lösung für Ihre spezifischen Projektanforderungen erstellen können, ohne unnötige Investitionen tätigen zu müssen.
  • XCP-Messung und -Kalibrierung auf POSIX-Systemen: Erfahren Sie, wie Sie bewährte XCP-basierte Mess- und Kalibrierungsmethoden auf AUTOSAR Adaptive und andere POSIX-basierte Umgebungen anwenden können, ohne dabei vorhandenes Fachwissen und bestehende Toolchains zu vernachlässigen.
  • Optimieren Sie den Kalibrierungsablauf: Erfahren Sie, wie eine einheitliche Toolkette und ein einheitliches Datenmanagement über verschiedene Steuergerätearchitekturen hinweg die Einarbeitungszeit verkürzen und die Gesamteffizienz Ihres Teams steigern können.

Referent

  • Rainer Strohmaier,
  • Stefan Syberichs, Außendiensttechniker für integrierte Kalibrierungs- und Anwendungslösungen
  • Jens Schneider,

Ersteller des Inhalts:

  • Rainer Strohmaier
  • Stefan Syberichs
  • Jens Schneider
  • Gert Maier
Illustration von Personen mit einem Smartphone, E-Mail-Symbol und Laptop

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