ECU-Zugriff meistern: Hochleistungsmessung und -kalibrierung für µC und µP in modernen E/E-Architekturen
Online, 15. September 2026, 16:00 Uhr und 16. September 2026, 10:00 Uhr MESZ
Key Topics und Erkenntnisse
- Einheitlicher ECU-Zugriff: Erfahren Sie, wie einheitliche Tools für den leistungsstarken Datenzugriff auf alle Arten von Steuergeräten – von Mikrocontrollern (µC) bis hin zu Hochleistungs-Mikroprozessoren (µP) – die Fragmentierung von Arbeitsabläufen beseitigen.
- Kosteneffiziente Datenerfassung mit hohem Durchsatz: Erfahren Sie, wie Sie moderne µC-Schnittstellen nutzen können, um Datenraten von über 80 MB/s zu erreichen und dabei die Datenintegrität in Validierungsszenarien mit hoher Auslastung zu gewährleisten.
- Flexibilität durch modularen Aufbau: Erfahren Sie, wie Sie dank des modularen Aufbaus und der funktionsbasierten Lizenzierung des M-ETK eine maßgeschneiderte Lösung für Ihre spezifischen Projektanforderungen erstellen können, ohne unnötige Investitionen tätigen zu müssen.
- XCP-Messung und -Kalibrierung auf POSIX-Systemen: Erfahren Sie, wie Sie bewährte XCP-basierte Mess- und Kalibrierungsmethoden auf AUTOSAR Adaptive und andere POSIX-basierte Umgebungen anwenden können, ohne dabei vorhandenes Fachwissen und bestehende Toolchains zu vernachlässigen.
- Optimieren Sie den Kalibrierungsablauf: Erfahren Sie, wie eine einheitliche Toolkette und ein einheitliches Datenmanagement über verschiedene Steuergerätearchitekturen hinweg die Einarbeitungszeit verkürzen und die Gesamteffizienz Ihres Teams steigern können.
Referent
- Rainer Strohmaier,
- Stefan Syberichs, Außendiensttechniker für integrierte Kalibrierungs- und Anwendungslösungen
- Jens Schneider,
Ersteller des Inhalts:
- Rainer Strohmaier
- Stefan Syberichs
- Jens Schneider
- Gert Maier
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