ECUアクセスの習得：最新E/Eアーキテクチャにおけるマイクロコントローラおよびマイクロプロセッサ向けの高性能計測&適合

• 統一されたECUアクセス環境の構築：マイクロコントローラ（µC）から高性能マイクロプロセッサ（µP）に至るまで、あらゆる種類の制御ユニットへの高性能データアクセスを実現する統合ツールが、ワークフローの断片化を解消する仕組みをご紹介します。
• コスト効率に優れた高スループットデータ収集：最新のマイクロコントローラ（µC）インターフェースを活用し、80 Mバイト/秒を超えるデータ転送速度を実現する方法をご紹介します。これにより、高負荷の妥当性確認シナリオにおいてもデータの完全性を確保できます。
• モジュール型の設計による柔軟性：M-ETKのモジュール型の設計と機能ベースのライセンス体系により、不必要な投資をすることなく、プロジェクトの具体的なニーズに合わせた最適なソリューションを構築できる仕組みをご紹介します。
• POSIXシステムへのXCP計測&適合の導入：既存の専門知識やツールチェーンを維持しつつ、確立されたXCPベースの計測&適合方法論をAUTOSAR Adaptiveやその他のPOSIXベースの環境に適用する方法について解説します。
• 適合のワークフローを効率化：異なるECUアーキテクチャ間で一貫性のあるツールチェーンとデータセット管理を導入することで、習得期間を短縮し、チームの全体的な効率を向上させる方法をご紹介します。

• ライナー・シュトロマイヤー、
• ステファン・サイベリヒス、フィールド・アプリケーション・エンジニア（統合校正・アプリケーション・ソリューション担当）
• イェンス・シュナイダー、
  

コンテンツ制作者：

• ライナー・シュトロマイヤー
• ステファン・シーベリヒス
• イェンス・シュナイダー
• ゲルト・マイヤー