Maîtriser l'accès aux calculateurs : mesures et étalonnage haute performance pour les microcontrôleurs et les microprocesseurs dans les architectures électriques et électroniques modernes

Maîtriser l'accès aux calculateurs : mesures et étalonnages haute performance pour les microcontrôleurs et les microprocesseurs dans les architectures électriques et électroniques modernes

Le software-defined vehicle intègre des calculateurs embarqués à microprocesseur (µP) aux côtés des calculateurs traditionnels à microcontrôleur (µC). Afin de tirer parti des atouts respectifs des technologies µC et µP, les fonctions distribuées joueront un rôle de plus en plus important dans l'architecture zonale en pleine évolution. Face à la multiplication des fonctionnalités distribuées, les équipes d'ingénierie se trouvent confrontées à un environnement de validation fragmenté et complexe. Les ingénieurs ont besoin d'outils éprouvés et simples pour optimiser et valider les fonctions du véhicule, quel que soit leur déploiement sur les unités de contrôle, et sans compromettre l'intégrité des données ni l'efficacité de l'équipe.

Ce webinaire technique explore des stratégies concrètes visant à harmoniser l'accès aux calculateurs électroniques (ECU) sur diverses architectures. Nous y aborderons en détail des méthodes avancées permettant d'accéder aux données de tous types de calculateurs et de les gérer, qu'il s'agisse de calculateurs de bas niveau ou de systèmes à microprocesseurs basés sur POSIX. La session se concentre sur des solutions techniques permettant une acquisition de données robuste à haut débit ainsi qu'un ajustement des paramètres en temps réel, et traite des défis spécifiques liés à la validation fonctionnelle et à l'optimisation dans les projets automobiles modernes.

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Thèmes clés et points à retenir

Concevoir un accès unifié aux calculateurs : découvrez comment des outils unifiés permettant un accès performant aux données de tous types de calculateurs, des microcontrôleurs (µC) aux microprocesseurs haute performance (µP), permettent d'éliminer la fragmentation des flux de travail.
Acquisition de données à haut débit et à faible coût : découvrez comment tirer parti des interfaces modernes des microcontrôleurs pour atteindre des débits de données supérieurs à 80 Mo/s, tout en garantissant l'intégrité des données lors de scénarios de validation à forte charge.
Flexibilité grâce à une conception modulaire : découvrez comment la conception modulaire du M-ETK et son système de licences par fonctionnalité vous permettent de créer une solution sur mesure adaptée aux besoins spécifiques de votre projet, sans investissement superflu.
Intégration des mesures et de l'étalonnage XCP aux systèmes POSIX : découvrez comment appliquer les méthodologies éprouvées de mesure et d'étalonnage basées sur XCP aux environnements AUTOSAR Adaptive et autres environnements POSIX, tout en conservant l'expertise et les chaînes d'outils existantes.
Optimisez le processus d'étalonnage : découvrez comment une chaîne d'outils et une gestion des ensembles de données cohérentes, quelle que soit l'architecture des calculateurs, peuvent réduire la courbe d'apprentissage et améliorer l'efficacité globale de votre équipe.

Conférencier

Rainer Strohmaier,
Stefan Syberichs, ingénieur d'application sur le terrain, Solutions intégrées d'étalonnage et d'application
Jens Schneider,

Créateur de contenu :

Rainer Strohmaier
Stefan Syberichs
Jens Schneider
Gert Maier

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