ECU 접근 기술 정복: 최신 E/E 아키텍처에서 마이크로컨트롤러(µC) 및 마이크로프로세서(µP)를 위한 고성능 측정 및 캘리브레이션

• 통합 ECU 액세스 아키텍처 구축: 마이크로컨트롤러(µC)부터 고성능 마이크로프로세서(µP)에 이르기까지 모든 종류의 제어 장치에 대한 고성능 데이터 액세스를 지원하는 통합 도구가 어떻게 워크플로우의 분절화를 해소하는지 알아보세요.
• 비용 효율적인 대용량 데이터 수집: 최신 마이크로컨트롤러(µC) 인터페이스를 활용하여 80MB/s를 초과하는 데이터 전송 속도를 달성하고, 고부하 검증 시나리오에서도 데이터 무결성을 보장하는 방법을 확인해 보세요.
• 모듈식 설계가 제공하는 유연성: M-ETK의 모듈식 설계와 기능 기반 라이선싱을 통해 불필요한 투자 없이 특정 프로젝트 요구 사항에 딱 맞는 맞춤형 솔루션을 구축할 수 있는 방법을 확인해 보세요.
• POSIX 시스템에 XCP 측정 및 교정 기술 도입: 기존 전문 지식과 툴체인을 유지하면서, 검증된 XCP 기반 측정 및 교정 방법론을 AUTOSAR Adaptive 및 기타 POSIX 기반 환경에 적용하는 방법을 알아보세요.
• 캘리브레이션 워크플로우 간소화: 다양한 ECU 아키텍처 전반에 걸쳐 일관된 툴체인 및 데이터셋 관리를 통해 학습 곡선을 단축하고 팀의 전반적인 효율성을 높일 수 있는 방법을 확인해 보세요.

• 라이너 슈트로마이어,
• 스테판 시베리히스, 통합 교정 및 애플리케이션 솔루션 분야 현장 애플리케이션 엔지니어
• 옌스 슈나이더,
  

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